Система контроля качества трафаретов Sunmenta SVII-K100
Доставка
Оплата
СрокиОсуществляется почти всеми известными транспортными компаниями, такими как: «Major express», «Деловые линии», DPD, «СДЭК», «ЖелДорЭкспедиция», Pony Express на территории РФ и стран таможенного союза.
Мы организуем доставку до вашего предприятия на условиях «door to door» или до ближайшего терминала компании-перевозчика.
Возможен самовывоз.
Работаем с юридическими лицами и ИП резидентами РФ и стран таможенного союза.
Всегда готовы предложить гибкие условия оплаты при покупке комплекта оборудования или большой партии расходников и запасных частей.
Ждем ваших обращений! ☎ +7(495)150-30-35 или +7(800)500-26-80.
Оборудование: 8-16 календарных недель;
Запасные части: 25-45 рабочих дней;
Расходные материалы: срок поставки зависит исключительно от удаленности вашего предприятия (в среднем не более 7 рабочих дней).
Система контроля качества трафаретов Sunmenta SVII-K100 предназначена для инспекции новых трафаретов и трафаретов, которые прошли процедуру очистки.
Она позволяет быстро идентифицировать такие дефекты трафаретов, как: отличия в размерах и смещение апертур, забитые апертуры, отсутствие отверстия, инородное тело, заусенцы, засоры, загрязнение и т.д.
Автоматическая оптическая инспекция трафаретов Sunmenta SVII-K100 будет незаменима на тех производствах РЭИ, где точность нанесения паяльной пасты имеет решающее значение для качества конечного продукта.
- Модернизированная двухсторонняя система освещения трафаретов: красный коаксиальный источник света сверху и белый светодиодный снизу;
- Универсальный интерфейс, поддерживающий подключение по Ethernet и Wi-Fi;
- Скорость проверки до 0,5/с на 1 ПЗР;
- Линейный двигатель;
- Метод контроля 3D АОИ;
- Идентификация всех типов реперных меток;
- SPC система мониторинга и анализа стабильности технологического процесса;
- Возможность offline программирования и удаленного обслуживания через TeamViewer, AnyDesk или Sunlogin;
- Соответствие требованиям ISO/IPC-7525.
| Модель | SVII-K100 (5Мп) | SVII-K100 (12Мп) |
| Оптическое разрешение | 6.4 мкм | 4.6 мкм |
| Время проверки на одно поле зрения (FOV) | 0.5 с/FOV | 0.7 с/FOV |
| Максимальный размер апертур | 14.6x10.4 мм | 16.6x12 мм |
| Минимальное расстояние между апертурами | 80 мкм | 60 мкм |
| Поле зрения (FOV) | 16.6x12.4 мм | 18.6x14 мм |
| Разрешающая способность (субпиксель) | 0.4 мкм | 0.3 мкм |
| Повторяемость размеров | Один пиксель | |
| Точность управления движением | Повторяемость: ±2 мкм | |
| Позиционирование: ±3 мкм | ||
| GRR площади апертуры | Gage R&R менее 5% | |
| Количество тестовых отверстий | менее 400 000 | |
| Объектив камеры | Двойной телецентрический объектив | |
| Освещение (сверху/снизу) | Красная коаксиальная подсветка/ белый светодиодный источник света | |
| Метод калибровки тензиометра | Автоматическая | |
| Размер трафарета | 200x200 ~ 736x800 мм | |
| Область инспекции | 500x550 мм | |
| Метод обучения | Gerber файл формата RS-274X | |
| SPC (Статистический контроль процессов) | Гистограмма, Xbar-R диаграмма, Xbar-s диаграмма, Op&Cpk, Ежедневные/Еженедельные/Ежемесячные отчеты | |
| Удаленное управление | с помощью TeamViewer/Anydesk или Sunlogin | |
| Компьютер | Промышленный персональный компьютер на базе Windows 10 Professional Edition 64 бит | |
| Энергопотребление | 220 В, 50/60 Гц, Мощность: 2 кВт | |
| Пневмопитание | 0.2 ~ 0.6 Мпа | |
| Габариты | 1130x1215x1500 мм | |
| Вес | 900 кг | |
- Система проверки натяжения трафарета
- Измерение толщины трафарета
- Функция проверки лезвий ракеля
- Проверка контактных площадок печатных плат
- Интеграция с MES
- SIMS (Stencil Information Management System) система управления информацией о трафаретах (жизненный цикл трафарета, интеграция с оборудованием, аналитика и отчетность)
Интересные факты о SPC
SPC (Statistical Process Control — Статистическое управление процессом) — это методика, применяемая в производстве для мониторинга и анализа стабильности технологического процесса с целью раннего выявления отклонений в процессе печати.
Гистограмма позволяет визуально оценить, насколько полученные данные (например, значения толщины слоя паяльной пасты или размеры апертур) соответствуют заданным и есть ли смещение от эталонных параметров.
Диаграммы Xbar-R и Xbar-S Chart важны для отслеживания среднего значения и изменчивости параметров процесса (например, объема нанесённой пасты) в коротких интервалах.
Индексы Cp & Cpk используются для оценки качества и стабильности процесса по сравнению с установленными пределами.
Изображения определяемых дефектов:
Вас также может заинтересовать:
